全新的8900ICP-MS/MS是ICP-MS的一個(gè)新類別，涵蓋了從常規(guī)商業(yè)分析到科學(xué)研究和高性能材料分析的應(yīng)用領(lǐng)域，可用于地球化學(xué)和其他嚴(yán)苛應(yīng)用，并為推進(jìn)并定義前沿研究應(yīng)用的全新性能標(biāo)準(zhǔn)創(chuàng)造了契機(jī)。

有關(guān)地球化學(xué)的解決方案：

1、鉛同位素分析：消除²⁰⁴Hg同質(zhì)異位素對(duì)²⁰⁴Pb的干擾

使用ICP-MS/MS在MS/MS模式下可消除²⁰⁴Hg同質(zhì)異位素對(duì)²⁰⁴Pb的干擾，8800的化學(xué)分離為消除棘手的干擾問題提供了巨大的潛力，無(wú)需進(jìn)行繁瑣的樣品前處理。在無(wú)法進(jìn)行樣品前處理的情況下（例如通過激光剝蝕ICP-MS進(jìn)行直接分析）化學(xué)分離與MS/MS技術(shù)聯(lián)用能夠可靠地去除干擾的獲得鉛同位素分析數(shù)據(jù)，無(wú)需復(fù)雜且通常不可靠的數(shù)字校正。

2、消除¹⁷⁶Yb和¹⁷⁶Lu對(duì)¹⁷⁶Hf的干擾以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的¹⁷⁶Hf/¹⁷⁷Hf同位素比分析

使用ICP-MS/MS在MS/MS模式下消除¹⁷⁶Yb和¹⁷⁶Lu對(duì)¹⁷⁶Hf的干擾以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的¹⁷⁶Hf/¹⁷⁷Hf同位素比分析。質(zhì)量轉(zhuǎn)移模式與原位質(zhì)量模式相結(jié)合，既解決了商業(yè)化高分辨率SF-ICP-MS在最高分辨率下仍無(wú)法解決的同質(zhì)異位素干擾問題，又避免了由樣品基質(zhì)、其他共存元素以及同位素形成意料之外的新干擾物的產(chǎn)生，從而在各種復(fù)雜的合成樣品基質(zhì)中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的Hf同位素分析。

3、對(duì)礦泉水進(jìn)行硫同位素分餾分析

Agilent 8900高級(jí)應(yīng)用配置ICP-MS/MS非常適合于³⁴S/³²S同位素比分析，其能夠?yàn)樽匀幌到y(tǒng)中的樣品表征或監(jiān)測(cè)人為影響提供有價(jià)值的信息。通過在MS/MS模式下操作8900ICP-MS/MS并以o₂作為反應(yīng)池氣體，成功避免了由于o₂+與³²S+和³⁴S+重疊所引起的質(zhì)譜干擾問題。

4、消除氫化物離子（MH+）對(duì)稀土元素的干擾

安捷倫ICP-MS/MS以MS/MS質(zhì)量轉(zhuǎn)移模式運(yùn)行，非目標(biāo)質(zhì)量數(shù)在進(jìn)入反應(yīng)池之前已被去除，能夠?qū)崿F(xiàn)ICP-QMS，甚至扇形磁場(chǎng)ICP-MS也不可能達(dá)到的去除干擾效果。采用該科技，實(shí)現(xiàn)了50ppm Ba基質(zhì)中的La、50 ppm La基質(zhì)中的Ce和50 ppm Gd基質(zhì)中的Tb的痕量（ppt)測(cè)定。

5、對(duì)高純度Nd₂o₃中的痕量稀土元素進(jìn)行常規(guī)測(cè)定

采用Agilent 8800串聯(lián)四極桿ICP-MS（ICP-MS/MS）直接分析高純度Nd₂O₃樣品中的痕量REE，利用多種ICP-MS/MS模式，可實(shí)現(xiàn)對(duì)500 pmm Nd₂O₃樣品中所有痕量REE測(cè)定的良好長(zhǎng)期（2小時(shí)）穩(wěn)定性，證明了該分析方法用于直接分析高純度Nd₂O₃的有效性。